EMMI測(cè)試系統(tǒng)
EMMI光子微漏電定位分析系統(tǒng)設(shè)備是集成電路失效分析中的重要分析工具，漏電定位對(duì)于失效分析者而言是必備工具。在集成電路行業(yè)中，對(duì)集成電路可靠性要求很高。芯片在工作中，微漏電現(xiàn)象較為普遍，微弱漏電在極端情況下往往會(huì)無限放大，造成芯片甚至整個(gè)控制系統(tǒng)失效，所以芯片微漏電現(xiàn)象是對(duì)于集成電路失效分析中極端重要的一環(huán)。
針對(duì)寬禁帶半導(dǎo)體（如GaN與SiC）器件失效分析，森東寶科技有限公司推
