創見性人機學設計，產品細節考慮全面。
防靜電------防靜電設計可以釋放顯微鏡內不斷產生的靜電,防止標本被損壞,保證提高產量和降低產品成本
教學示范，生物工程,IT產業檢測，材料分析等領域。
與探針臺搭配實物圖：
CS-4 small probe station
Small size, modular design, light weight, up to 6 inch wafer, for I-V/C-V, PIV, optoelectronic tests, applicable to glove box
CL-6 middle-sized probe station
Modular design, precise screw drive structure, up to 8 inch wafer, upgradable for RF test, high current test and laser repair applications.
CH-8-D
CINDBEST CH-8-D 雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。可廣泛應用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。
