尺寸：427 mm x 427 mm x 216 mm,
自重：27 kg
載重：0-47.7 kg
固有頻率：
垂直：任何載重下，均為0.5 Hz ；
水平：在標準（最大）載重下可達0.5 Hz
CS-4 small probe station
Small size, modular design, light weight, up to 6 inch wafer, for I-V/C-V, PIV, optoelectronic tests, applicable to glove box
CL-6 middle-sized probe station
Modular design, precise screw drive structure, up to 8 inch wafer, upgradable for RF test, high current test and laser repair applications.
CH-8-D
CINDBEST CH-8-D 雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。可廣泛應用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。
