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探針的分類說明

關于電學量測使用的探外地，一般分為以下幾大類，為您做詳細的說明

一、概述：      
測試針，是用于測試PCBA的一種探針，主要做為電學信號的輸入。 
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。 
探針的材質：W，ReW, A+ 
1.目前主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。 
2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。

二、探針分類
探針根據(jù)電子測試用途可分為：
A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針； 
B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；  
C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針；

三、探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。 
懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type） 
垂直探針：垂直型（Vertical Type） 

1.ICT探針 （ICT series Probes) 
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目前應用較多的一種探針． 

2.界面探針(Interface Probes) 
非標準的探針
3.微型探針（MicroSeries Probes) 
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm． 
4.開關探針（Switch Probes) 
開關探針單獨一支探針有兩路電流． 
5.高頻探針（Coaxial Probes) 
用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的． 
6.旋轉探針（Rotator Probes) 
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試． 
7.高電流探針（High Current Probes) 
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps. 
8.半導體探針 (Semiconductor Probes) 
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic 
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts) 
一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長