針桿長度38mm，直徑0.5mm；可測電流范圍1fA~1A
ST系列硬探針
ST系列探針尺寸圖
ST系列硬針是 0.020 inch (0.51mm)直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工成為不同的針
尖直徑，長度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測和線
路點(diǎn)測。
ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果
選擇鍍鎳則型號后面增加“NP”。
型號
針桿直徑
針尖直徑
ST-20-0.5
0.020" (0.51mm)
<1微米
ST-20-1
<2.0微米
ST-20-2
<5.0微米
ST-20-5
<10.0微米
ST-20-10
<20.0微米
ST-20-25
<50.0微米
ST-20-50
<100.0微米
ST-20-100
<200.0微米
CS-4小型探針臺
CS系列探針臺最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試； 可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
CM-4簡易探針臺
CM系列探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等； 外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠。
CL-6系列中端探針臺
CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用。
CH-8-D 雙面探針臺
CINDBESTCH-8-D雙面點(diǎn)針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備；該定制探針臺具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級功能；可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
