• 標準陶瓷探針 • 探針末端角度120° • 用于高低溫測試
低溫陶瓷探針
性能 • 適用頻率：DC-100MHz • 擊穿電壓：大于等于200V • 適用溫度范圍：0K-573K • 針尖半徑：5um/10um/25um可選 • 探針材料：鎢，鈹銅可選 • 包裝：2支1盒
型號
針尖直徑
LKZN50R-5-W
5um
LKZN50R-10-W
10um
LKZN50R-25-W
25um
LKZN50R-5-BeCu
LKZN50R-10-BeCu
LKZN50R-25-BeCu
CS-4小型探針臺
CS系列探針臺最大可用于6英寸以內樣品測試； 可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
CM-4簡易探針臺
CM系列探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等； 外形輕盈，操作方便，價格實惠。
CL-6系列中端探針臺
CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動； 可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用。
CH-8-D 雙面探針臺
CINDBESTCH-8-D雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備；該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能；可廣泛應用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。
