測(cè)試
CS-4小型探針臺(tái)
CS系列探針臺(tái)最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等。
CM-4簡(jiǎn)易探針臺(tái)
CM系列探針臺(tái)可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等； 外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠。
CL-6系列中端探針臺(tái)
CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用。
